三維形貌儀的應(yīng)用有三維表面輪廓測(cè)量、粗糙度測(cè)量、膜的臺(tái)階高度測(cè)量、空間分析和表面紋理表征、曲率測(cè)量、二維薄膜應(yīng)力測(cè)量、表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)等。

　　三維形貌儀的幾大校準(zhǔn)方法：

　　1.三維形貌校準(zhǔn)

　　這一校準(zhǔn)都和形貌測(cè)量的“高度”結(jié)果相關(guān)，所以稱(chēng)為三維校準(zhǔn)。主要包括對(duì)干涉物鏡參考面形貌誤差的標(biāo)定；以及使用標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊對(duì)臺(tái)階高度測(cè)試精度校準(zhǔn)。

　　2.二維光強(qiáng)校準(zhǔn)

　　這一校準(zhǔn)和成像視場(chǎng)范圍內(nèi)的“光強(qiáng)”信號(hào)相關(guān)。設(shè)備有一些功能，可以增強(qiáng)用戶(hù)對(duì)樣品表面觀(guān)察效果。比如在某觀(guān)測(cè)模式下，可以自動(dòng)去除視場(chǎng)中黑白條紋，更清楚地觀(guān)測(cè)表面紋理；真彩模式可以復(fù)現(xiàn)表面彩色信息。

　　由于以上功能相關(guān)標(biāo)定都只涉及“光強(qiáng)”，不涉及到形貌高度，所以稱(chēng)為二維光強(qiáng)校準(zhǔn)。

　　3.橫向校準(zhǔn)

　　這一校準(zhǔn)是為了標(biāo)定在當(dāng)前設(shè)置下，每個(gè)像素在橫向上代表的尺寸大小。

　　三維形貌儀很多測(cè)試結(jié)果和分析設(shè)置，如溝槽寬度，孔徑尺寸，坡度斜率，空間濾波，拼接測(cè)量，都基于或和橫向尺寸相關(guān)。對(duì)于這些結(jié)果和分析，橫向尺寸的標(biāo)定是至關(guān)重要的。